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郭 耀
物理学院
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搜索结果
2021
Erratum to: Field-effect at electrical contacts to two-dimensional materials (Nano Research, (2021), 14, 12, (4894-4900), 10.1007/s12274-021-3670-y)
Guo, Y.
, Sun, Y., Tang, A., Wang, C. H., Zhao, Y., Bai, M., Xu, S., Xu, Z., Tang, T., Wang, S., Qiu, C., Xu, K.,
Peng, X.
,
Han, J.
, Pop, E. & Chai, Y.,
12月 2021
,
在:
Nano Research.
14
,
12
,
页码 4903
1 页码
科研成果
:
期刊稿件
›
评论/辩论
开放访问
Two-Dimensional Materials
100%
Electrical Contact
100%
Two-Dimensional Material
100%
1
引用 (Scopus)
2016
Erratum: Charge trapping at the MoS
2
-SiO
2
interface and its effects on the characteristics of MoS
2
metal-oxide-semiconductor field effect transistors (Applied Physics Letters (2015) 106 (103109))
Guo, Y.
, Wei, X., Shu, J., Liu, B., Yin, J., Guan, C., Han, Y., Gao, S. & Chen, Q.,
16 5月 2016
,
在:
Applied Physics Letters.
108
,
20
, 209902.
科研成果
:
期刊稿件
›
评论/辩论
开放访问
2
引用 (Scopus)
Field-Effect Transistors: Edge-States-Induced Disruption to the Energy Band Alignment at Thickness-Modulated Molybdenum Sulfide Junctions (Adv. Electron. Mater. 8/2016)
Guo, Y.
, Yin, J., Wei, X., Tan, Z., Shu, J., Liu, B., Zeng, Y., Gao, S., Peng, H., Liu, Z. & Chen, Q.,
1 8月 2016
,
在:
Advanced Electronic Materials.
2
,
8
科研成果
:
期刊稿件
›
评论/辩论
开放访问