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The packaging effect on high g accelerometer test
Yunbo Shi
*
, Zhengqiang Zhu,
Ping Li
, Jun Liu
*
此作品的通讯作者
National Key Laboratory of Science and Technology on Electronic Test and Measurement
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'The packaging effect on high g accelerometer test' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Experimental Result
66%
Hopkinson Bar
33%
Impacted Structure
33%
Natural Frequency
33%
Packaging Material
66%
Single Output
33%
Stainless Steel
100%
Structural Stability
33%
Material Science
Accelerometer
100%
Packaging Material
66%
Stainless Steel
100%