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The frequency dependence of microstructure evolution in a ferroelectric nano-film during AC dynamic polarization switching
Yu Su
, George J. Weng
*
*
此作品的通讯作者
宇航学院
Rutgers - The State University of New Jersey, New Brunswick
科研成果
:
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文章
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同行评审
8
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'The frequency dependence of microstructure evolution in a ferroelectric nano-film during AC dynamic polarization switching' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Film
100%
Thin Films
100%
Ferroelectric Material
100%
Barium Titanate
33%
Energy Density
16%
Phase Field Model
16%
Domain Wall
16%