Near-interface charged dislocations in AlGaN/GaN bilayer heterostructures

A. Sangghaleh, E. Pan, X. Han

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7 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Near-interface charged dislocations in AlGaN/GaN bilayer heterostructures' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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