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Monte Carlo simulation of time-dependent dielectric breakdown of oxide caused by migration of oxygen vacancies
Ping Li
, Yu Tang Xu
*
*
此作品的通讯作者
设计与艺术学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
2
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Monte Carlo simulation of time-dependent dielectric breakdown of oxide caused by migration of oxygen vacancies' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Dielectric Material
53%
Electrical Breakdown
100%
Metal Oxide
33%
Oxide Compound
100%
Oxide Semiconductor
6%
Oxygen Vacancy
100%
Transistor
6%
Engineering
Lattice Point
6%