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Mirofabrication and characterization of an integrated 3-axis CMOS-MEMS accelerometer
Hongwei Qu
*
, Deyou Fang,
Huikai Xie
*
此作品的通讯作者
Oakland University
Freescale Semiconductor
University of Florida
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Mirofabrication and characterization of an integrated 3-axis CMOS-MEMS accelerometer' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Microelectromechanical System
100%
Thin Films
50%
Signal Modulation
50%
Microfabrication
50%
Device Structure
50%
Amplifier
50%
Electrical Isolation
50%
Proof Mass
50%
Axis Accelerometer
50%
Noise Floor
50%
Etching Process
50%
Choppers (Circuits)
50%
Bulk Silicon
50%
Material Science
Microelectromechanical System
100%
Accelerometer
100%
Thin Films
33%
Capacitance
33%
Device Fabrication
33%
Amplifier
33%
Bulk Silicon
33%
Microfabrication
33%
Plasma Etching
33%