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A Ka-Band Mutual Coupling Resilient Stacked-FET Power Amplifier with 21.2 dBm OP1dB and 27.6% PAE1dB in 45-nm CMOS SOI
Jian Zhang
*
, Dawei Wang,
Wei Zhu
, Ming Zhai, Xiangjie Yi, Yan Wang
*
此作品的通讯作者
集成电路与电子学院
Tsinghua University
科研成果
:
期刊稿件
›
文章
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同行评审
3
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'A Ka-Band Mutual Coupling Resilient Stacked-FET Power Amplifier with 21.2 dBm OP1dB and 27.6% PAE1dB in 45-nm CMOS SOI' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Ka-Band
100%
Mutual Coupling
100%
Power Amplifier
100%
Field Effect Transistor
100%
Output Power
33%
Silicon on Insulator
33%
Signal Gain
33%
Voltage-Standing-Wave Ratio
33%
Phased-Array Antenna
33%
Parasitic Capacitance
33%
Magnetic Couplings
33%
Performance Deterioration
33%