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Transformed pupil-function misalignment calibration strategy for Fourier ptychographic microscopy
Hongnian Liu,
Tingfa Xu
*
, Yiwen Chen, Yuncheng Wang,
Jianan Li
*
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Transformed pupil-function misalignment calibration strategy for Fourier ptychographic microscopy' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Diffraction Limit
100%
Error Source
100%
Fourier Transform
100%
High Resolution
100%
Objective Lens
100%
Spatial Domain
100%
Systematic Error
100%
Computer Science
Spatial Domain
100%
Systematic Error
100%
Varying Illumination
100%