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Three-wavelength passive demodulation technique for the interrogation of EFPI sensors with arbitrary cavity length
Jingshan Jia,
Yi Jiang
*
, Hongchun Gao, Liuchao Zhang, Yuan Jiang
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
43
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Three-wavelength passive demodulation technique for the interrogation of EFPI sensors with arbitrary cavity length' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Accurate Solution
20%
Bending Loss
20%
Cavity Length
100%
Demodulation
100%
Demodulator
20%
Demonstrates
20%
Dynamic Range
20%
Fabry Perot
100%
Phase Modulation
20%
Robust Solution
20%