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The calculation and representation of polarization aberration induced by 3D mask in lithography simulation
Yunyun Hao,
Yanqiu Li
*
, Tie Li, Naiyuan Sheng
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
4
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'The calculation and representation of polarization aberration induced by 3D mask in lithography simulation' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Lithography
100%
Jones Matrix
66%
Nodes
33%
Obtains
33%
Frequency Spectrum
33%
Field Model
33%
Feature Size
33%
Spherical Aberration
33%
Kirchhoff
33%
Medicine and Dentistry
Diffraction
100%
Electromagnetic Field
100%
Psychiatrist
100%