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Terahertz Scale Equivalent Far-Field Test Technique
Kaiqi Zhang
*
, Yang Liu,
Weidong Hu
*
此作品的通讯作者
集成电路与电子学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Terahertz Scale Equivalent Far-Field Test Technique' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Field Test
100%
Terahertz
100%
Test Technique
100%
Radar Cross Section
33%
Corner Reflector
33%
Good Agreement
16%
Frequency Modulated Continuous Wave
16%
Scale Model
16%
Test System
16%
Field Condition
16%