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Study of the conductance and structure characteristics of C
60
/Sb bilayers
Xiang Li
*
, H. Wang, W. N. Wang, Y. J. Tang, H. W. Zhao, W. S. Zhan, J. G. Hou
*
此作品的通讯作者
CAS - Institute of Physics
University of Science and Technology of China
科研成果
:
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同行评审
3
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Study of the conductance and structure characteristics of C
60
/Sb bilayers' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
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Physics
Crystal Structure
100%
Electron Microscope
100%
Material Science
Structural Property
100%