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Structure, magnetism and magnetoresistance effect of $cd
1-x
Cu
x
Cr
2
S
4
(x=0.01, 0.04, 0.1, 0.2)
Li Qin Yan
*
, Fangwei Wang, Young Sun,
Jun Shen
*
此作品的通讯作者
Chinese Academy of Sciences
CAS - Technical Institute of Physics and Chemistry
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
2
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Structure, magnetism and magnetoresistance effect of $cd
1-x
Cu
x
Cr
2
S
4
(x=0.01, 0.04, 0.1, 0.2)' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Magnetism
100%
Magnetoresistance
100%
X-Ray Diffraction
33%
X-Ray Photoelectron Spectroscopy
33%
Carrier Concentration
33%
Diffraction Pattern
33%
Physics
Magnetoresistance
100%
X Ray Diffraction
33%
Diffraction Pattern
33%
Photoelectric Emission
33%
Polaron
33%
Magnetic Moment
33%