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Reliability evaluation based on historical batch information
Wenda Kang,
Houbao Xu
, Huiling Zheng
数学学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Reliability evaluation based on historical batch information' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Batch Data
100%
Reliability Evaluation
100%
Reliability Estimation
66%
Simulation Result
33%
Failure Mechanism
33%
System Reliability
33%
Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
33%
Chemical Engineering
Oxide Semiconductors
100%