Recovery behaviors in n-channel LTPS-TFTs under DC stress

Wei Yan, Zhinong Yu*, Jian Guo, Dawei Shi, Jianshe Xue, Wei Xue

*此作品的通讯作者

科研成果: 期刊稿件文章同行评审

3 引用 (Scopus)

指纹

探究 'Recovery behaviors in n-channel LTPS-TFTs under DC stress' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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