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Quantitative analysis of wide field-of-view and broadband quarter-wave plate based on metasurface
Yanjun Chen
*
, Zhe Guo,
Ke Liu
,
Lihui Liu
,
Yanqiu Li
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
1
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Quantitative analysis of wide field-of-view and broadband quarter-wave plate based on metasurface' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Feature Size
33%
Light Incident
33%
Lithography
66%
Metasurface
100%
Nanoscale
33%
Numerical Aperture
66%
Oblique Incidence
33%
Obtains
33%
Phase Delay
33%
Phase Difference
33%
Simulation Result
33%
Time Domain Processing
33%
Transmissions
100%
Material Science
Finite Difference
50%
Lithography
100%