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Physical model-based ArF photoresist formulation development
Liwan Yue
*
, Zhibiao Mao, Qiang Wu, Yanli Li
*
,
Yanqiu Li
*
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
Ningbo Nata Opto-Electronic Materials Co. Ltd.
Fudan University
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
2
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Physical model-based ArF photoresist formulation development' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Lithography
100%
Optical Lithography
100%
Process Simulation
50%
Engineering
Defectivity
11%