Nondestructive ion trap mass analysis at high pressure

Wei Xu, Jeffrey B. Maas, Frank J. Boudreau, William J. Chappell, Zheng Ouyang*

*此作品的通讯作者

科研成果: 期刊稿件文章同行评审

13 引用 (Scopus)

指纹

探究 'Nondestructive ion trap mass analysis at high pressure' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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