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New methods for diagnosing high resolution A/D and D/A converters
Ran Tag, Xinmin Zhao, Guangqiu Tong,
Yue Wang
, Siyong Zhou
机电学院
Beijing Institute of Technology
Harbin Institute of Technology
National Institute of Metrology China
科研成果
:
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同行评审
1
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'New methods for diagnosing high resolution A/D and D/A converters' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
High Resolution
100%
Error Function
100%
Bit Error
66%
Superposition
66%
Fast Algorithm
33%
Indirect Method
33%
Memory Space
33%