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Monte Carlo simulations of microstrip lines with random substrate impurity
X. Q. Sheng
*
, Y. X. Yu, C. H. Chan, E. K.N. Yung
*
此作品的通讯作者
City University of Hong Kong
科研成果
:
期刊稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Monte Carlo simulations of microstrip lines with random substrate impurity' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Attenuation Constant
50%
Current Distribution
100%
Demonstrates
50%
Dielectrics
50%
Electric Lines
50%
Ensemble Average
50%
Finite Element Method
50%
Realization
100%
Resolution Estimation
50%
Rotational Invariance
50%
Simulation Tool
50%
Volume Ratio
50%
Material Science
Finite Element Method
100%
Permittivity
100%