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Modeling and analyzing supply chain reliability by different effects of failure nodes
Lun Ran
*
, Xujie Jia, Rongjie Tian
*
此作品的通讯作者
Minzu University of China
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
5
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Modeling and analyzing supply chain reliability by different effects of failure nodes' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Nodes
100%
System Safety
50%
Numerical Example
50%
Defects
50%
Illustrates
50%
Channel Modeling
50%
Service Process
50%
Logistics System
50%