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Metal film bridge with TSV-based 3D wafer level packaging
Yunlong Guo,
Wenzhong Lou
, Xuran Ding
机电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Metal film bridge with TSV-based 3D wafer level packaging' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Metal Film
100%
Nanofabrication Process
25%
Engineering
Energy Conservation Law
50%
Nanotechnology Fabrication
50%