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Interference effect of dual diffractive cylindrical microlenses analyzed by rigorous electromagnetic theory
Juan Liu
*
, Ben Yuan Gu, Bi Zhen Dong, Guo Zhen Yang
*
此作品的通讯作者
CAS - Institute of Physics
科研成果
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期刊稿件
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同行评审
16
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Interference effect of dual diffractive cylindrical microlenses analyzed by rigorous electromagnetic theory' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Demonstrates
100%
Boundary Element Method
100%
Light Incident
100%
Refractive Index
100%
Focal Length
100%
Micro-Lens Array
100%
Interference Pattern
100%
Material Science
Refractive Index
100%
Boundary Element Method
100%