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Inhomogeneous strain fields within silicon spheres under the point load test and the strain effect on the quantum valence-bands
X. X. Wei
, B. W. Chen, Y. Li
机电学院
Beijing Institute of Technology
Pennsylvania State University
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
1
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Inhomogeneous strain fields within silicon spheres under the point load test and the strain effect on the quantum valence-bands' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Boundary Condition
25%
Central Part
25%
Contact Problem
25%
Displacement Function
25%
Effect of Strain
25%
Energy Band Theory
25%
Energy Surface
25%
Load Test
100%
Point Load
100%
Strain Effect
100%
Strain Field
100%
Tensile Strain
25%
Valence Band
100%