In Situ Observation of Domain Wall Lateral Creeping in a Ferroelectric Capacitor

Songhua Cai*, Changqing Guo, Ben Niu, Lin Xie, Christopher Addiego, Di Wu, Peng Wang, Shu Ping Lau, Houbing Huang*, Xiaoqing Pan*

*此作品的通讯作者

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2 引用 （Scopus）

指纹

探究 'In Situ Observation of Domain Wall Lateral Creeping in a Ferroelectric Capacitor' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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