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In situ multiproperty measurements of individual nanomaterials in SEM and correlation with their atomic structures
Z. Y. Ning, M. Q. Fu, T. W. Shi,
Y. Guo
, X. L. Wei, S. Gao, Q. Chen
Peking University
科研成果
:
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同行评审
8
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'In situ multiproperty measurements of individual nanomaterials in SEM and correlation with their atomic structures' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Scanning Electron Microscopy
100%
Nanocrystalline Material
100%
Atomic Structure
100%
Carbon Nanotube
83%
Nanodevice
33%
Transmission Electron Microscopy
16%
Chirality
16%
Field Effect Transistor
16%
Beam Theory
16%