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Identification of native defects of 1T-HfTe
2
Xinxin Wang, Ji Li, Yongkai Li,
Zhiwei Wang
,
Wende Xiao
*
,
Jie Ma
*
*
此作品的通讯作者
物理学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Identification of native defects of 1T-HfTe
2
' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Scanning Tunneling Microscopy
100%
Density
50%
Atomic Structure
50%
Transition Metal Dichalcogenide
50%
Materials Property
50%