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High throughput screening for two-dimensional topological insulators
Xinru Li, Zeying Zhang,
Yugui Yao
, Hongbin Zhang
物理学院
Technische Universität Darmstadt
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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同行评审
31
引用 (Scopus)
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综述
指纹
指纹
探究 'High throughput screening for two-dimensional topological insulators' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Two-Dimensional Material
100%
Density
50%
Crystal Structure
50%
Electronic Structure
50%