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High overload ability optimization of a MEMS high-g accelerometer
Yun Bo Shi
*
,
Ping Li
, Zheng Qiang Zhu, Jun Liu, Xiao Ming Zhang
*
此作品的通讯作者
North University of China
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
6
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'High overload ability optimization of a MEMS high-g accelerometer' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Hopkinson Bar
50%
Impact Loads
50%
Impact Test
50%
Impact Testing
50%
Microelectromechanical System
100%
Structural Damage
50%
Test Method
50%
Test Result
50%
Material Science
Accelerometer
100%
Impact Loads
50%
Impact Testing
100%
Microelectromechanical System
100%