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Fabrication of high-frequency moiré gratings for microscopic deformation measurement using focused ion beam milling
Y. J. Li, H. M. Xie,
B. Q. Guo
, Q. Luo, C. Z. Gu, M. Q. Xu
Tsinghua University
CAS - Institute of Physics
科研成果
:
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同行评审
34
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Fabrication of high-frequency moiré gratings for microscopic deformation measurement using focused ion beam milling' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
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按字母排序
Physics
Ion Beams
100%
Scanning Electron Microscopy
66%
Room Temperature
66%
Microbeam
33%
Engineering
Focused Ion Beam
100%
Room Temperature
66%
Fabrication Technique
33%
Material Science
Focused Ion Beam
100%
Scanning Electron Microscopy
66%
Amorphous Material
33%