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ESSPI non-destructive testing of honeycomb sandwich panel for bonding defects
Xu Luan
*
,
Jun Liang
, Jin Cheng, Chao Wang
*
此作品的通讯作者
Harbin Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
›
同行评审
1
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'ESSPI non-destructive testing of honeycomb sandwich panel for bonding defects' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Defects
100%
Non-Destructive Testing
100%
Sandwich Panel
100%
Honeycomb Sandwich
100%
Image Processing
25%
Main Reason
25%
Aviation
25%
Debonding
25%
Point Bending
25%
Material Science
Non-Destructive Testing
100%
Sandwich Panel
100%
Mechanical Strength
50%
Debonding
25%