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Entirely electromagnetic analysis of microlenses without a beam-shaping aperture
Juan Liu
, Bi Zhen Dong, Ben Yuan Gu, Guo Zhen Yang
Chinese Academy of Sciences
科研成果
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同行评审
4
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Entirely electromagnetic analysis of microlenses without a beam-shaping aperture' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Beam Shaping
100%
Electromagnetic Analysis
100%
Computer Simulation
50%
Boundary Element Method
50%
Optical Element
50%
Physics
Electromagnetic
100%
Boundary Element Method
100%