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Effect of Non-homogeneous Strain on the Band Structure of Semi-conductors due to the End Friction under Compression Tests
X. X. Wei
*
, K. T. Chau
*
此作品的通讯作者
机电学院
Hong Kong Polytechnic University
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Effect of Non-homogeneous Strain on the Band Structure of Semi-conductors due to the End Friction under Compression Tests' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Compression Test
100%
Valence Band
100%
Band Structure
100%
End Constraint
100%
Energy Engineering
75%
Hamiltonian
75%
Circumferential
25%
Strain Field
25%
Central Region
25%
Stress Function
25%
Electronic State
25%
Schr Dinger Equation
25%