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Edge-Contact MoS
2
Transistors Fabricated Using Thermal Scanning Probe Lithography
Ana Conde-Rubio
*
,
Xia Liu
, Giovanni Boero, Jürgen Brugger
*
此作品的通讯作者
Swiss Federal Institute of Technology Lausanne
科研成果
:
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同行评审
8
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Edge-Contact MoS
2
Transistors Fabricated Using Thermal Scanning Probe Lithography' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
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Material Science
Scanning Probe Lithography
100%