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Dislocation-induced fields in piezoelectric AlGaN/GaN bimaterial heterostructures
Xueli Han
*
, Ernie Pan
*
此作品的通讯作者
宇航学院
University of Akron
科研成果
:
期刊稿件
›
文章
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同行评审
15
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Dislocation-induced fields in piezoelectric AlGaN/GaN bimaterial heterostructures' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Heterostructures
100%
Piezoelectric
100%
Charge Density
75%
Dislocation Loop
75%
Two Dimensional
50%
Numerical Example
25%
Electric Field
25%
Anisotropic
25%
Elastic Field
25%
Line Segment
25%
Edge Dislocation
25%
Dislocation Line
25%
Dimensional Dislocation
25%
Material Science
Heterojunction
100%
Piezoelectricity
100%
Density
75%
Edge Dislocation
25%