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Detection of DC Series Arc Fault in SSPC Based on VMD and Shannon Entropy Criterion
Xiaodong Cao,
Lei Dong
, Nana Huai, Shengyang Liu, Hongwei Ma
自动化学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
2
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Detection of DC Series Arc Fault in SSPC Based on VMD and Shannon Entropy Criterion' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Arc Fault
100%
Capacitive
25%
Electric Power Distribution
12%
Experimental Result
12%
Fault Condition
12%
Fault Mode
25%
Inductive Load
12%
Intrinsic Mode Function
37%
Misdetection
12%
Normal Modes
12%
Power State
100%
Resistive Load
12%
Shannon Entropy
100%
Spectral Characteristic
12%
Transients
50%
Variational Mode Decomposition
100%