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Design of on-chip clock generation with 50/50 duty cycle correction
Wei Cui
*
,
H. Chen
, Yueqiu Han
*
此作品的通讯作者
信息与电子学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Design of on-chip clock generation with 50/50 duty cycle correction' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Duty Cycle
100%
Circuit Design
25%
Electric Power Utilization
25%
SPICE
25%
Material Science
Electronic Circuit
100%