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Deep subwavelength electromagnetic transparency through dual metallic gratings with ultranarrow slits
Chunyin Qiu
*
, Sucheng Li, Ruirui Chen, Bo Hou,
Feng Li
, Zhengyou Liu
*
此作品的通讯作者
Wuhan University
Soochow University
CAS - Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
8
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Deep subwavelength electromagnetic transparency through dual metallic gratings with ultranarrow slits' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Physics
Defects
100%
Electromagnetic
100%
Physics
100%
Material Science
Electronic Circuit
100%
Engineering
Slit Array
33%