Critical length scales for chemical heterogeneity at Cu/Nb 3D interfaces by atom probe tomography

Zezhou Li, Justin Y. Cheng, Jonathan D. Poplawsky*, Shuozhi Xu, Jon K. Baldwin, Irene J. Beyerlein, Nathan A. Mara

*此作品的通讯作者

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5 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Critical length scales for chemical heterogeneity at Cu/Nb 3D interfaces by atom probe tomography' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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