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Color speckle deflectometry for three-dimensional surface transient measurement
Zichen Wang,
Yao Hu
*
,
Qun Hao
, Chuheng Xu, Yuan Heng Liu
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Color speckle deflectometry for three-dimensional surface transient measurement' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Automotives
20%
Beam Splitter
20%
Color Correction
20%
Color Image
20%
Dimensional Shape
20%
Dimensional Surface
100%
Display Screen
20%
Improve Efficiency
20%
Liquid Crystal Display
20%
Measurement System
20%
Multichannel
20%
Non-Destructive Testing
20%
Shape Surface
20%
Speckle
20%
Transients
100%
Physics
Beam Splitter
20%
Liquid Crystal
20%
Measurement Method
40%
Nondestructive Test
20%
Optical Measurement
20%
Transients
100%