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Charged dislocations in piezoelectric bimaterials
Xueli Han
, Ernie Pan
*
, Ali Sangghaleh, John Albrecht
*
此作品的通讯作者
宇航学院
University of Akron
Michigan State University
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
8
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Charged dislocations in piezoelectric bimaterials' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Piezoelectric
100%
Dislocation Loop
100%
Electric Field
40%
Layered Structure
40%
Dimensional Dislocation
40%
Numerical Example
20%
Displacement Field
20%
Strain Field
20%
Analytical Model
20%
Anisotropic
20%
Elastic Field
20%
Induced Stress
20%
Polarization Field
20%
Piezoelectric Structure
20%
Material Science
Piezoelectricity
100%
Mechanical Property
16%
Semiconductor Material
16%
Ceramic Material
16%