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Calculations of defect states in various sizes of InN nanowires
Chuli Sun, Hongbo Wu, Pei Yang, Zhuo Chen
*
,
Wei Guo
*
此作品的通讯作者
物理学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
1
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Calculations of defect states in various sizes of InN nanowires' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Density
12%
Electronic Structure
12%
Nanodevice
12%
Nanowire
100%
Nitride Compound
12%
Optical Property
12%
Optoelectronics
12%
Point Defect
12%