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Aspheric surface testing using a partial compensation lens
Q. Hao
*
, Q. D. Zhu
*
此作品的通讯作者
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
8
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Aspheric surface testing using a partial compensation lens' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Aspheric Surface
100%
Defects
25%
Design Method
25%
Complex Structure
25%
Testing Method
25%
Mathematics
Universal Property
50%