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An exact analytical solution for stress concentrations within layered hollow spheres under compression
L. T. Yan,
X. X. Wei
*
, K. T. Chau
*
此作品的通讯作者
机电学院
Beijing Institute of Technology
Hong Kong Polytechnic University
科研成果
:
期刊稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'An exact analytical solution for stress concentrations within layered hollow spheres under compression' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Computer Simulation
20%
Delamination
20%
Hoop Stress
100%
Internal Pressure
20%
Internal Surface
40%
Outer Layer
80%
Relative Stiffness
20%
Relative Thickness
20%
Stress Concentration
100%
Tensiles
80%