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An auto-test system based on VEE for the improvemet of target positionprecision
Ming Wei,
Ning Chen
, Ju Zhou, Jingchao Du
集成电路与电子学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'An auto-test system based on VEE for the improvemet of target positionprecision' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Test System
100%
Phase Error
66%
High Resolution
33%
Iterative Algorithm
33%
Improve Efficiency
33%
Testing Method
33%
Phase Shifters
33%
Target Position
33%
Physics
Phase Error
100%
High Resolution
50%
Attenuator
50%