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A white-light interferometry for the measurement of high-finesse fiber optic EFPI sensors
Zhen Wang
*
,
Yi Jiang
, Wenhui Ding,
Ran Gao
*
此作品的通讯作者
光电学院
信息与电子学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
16
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'A white-light interferometry for the measurement of high-finesse fiber optic EFPI sensors' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Cavity Length
50%
Fourier Transform Method
75%
Frequency Component
75%
Measurement Range
25%
Multiple Frequency
25%
Optical Path
100%
Path Difference
100%
Signal Spectrum
25%
Transmissions
25%