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A unified field analysis method for IR/MMW beam splitter
Yi Tian, Hui Yan,
Xin Wang
, Li Zhang, Zhuo Li
光电学院
Beijing Institute of Technology
Shanghai Institute of Electro-Mechanical Engineering
Beijing Key Lab. for Precision Optoelectronic Measurement Instrument and Technology
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'A unified field analysis method for IR/MMW beam splitter' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Millimeter Wave
100%
Beam Splitter
100%
Field Distribution
80%
Integration Method
60%
Focal Plane
40%
Simulation Result
20%
Engineering
20%
Scale Factor
20%
Memory Requirement
20%
Dielectric Layer
20%
Calculation Accuracy
20%
Fast Multipole Method
20%
Field Condition
20%