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A Research on Stress Gradient for HIP in Ultrasonic Nondestructive Testing Technology
Quan Wen Li,
Chun Guang Xu
, Zhi Xiang Li
机械与车辆学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'A Research on Stress Gradient for HIP in Ultrasonic Nondestructive Testing Technology' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Stress Gradient
100%
Hot Isostatic Pressing
100%
Ultrasonic Nondestructive Testing
100%
Residual Stress Distribution
66%
Safe Operation
33%
Residual Stress
33%