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A rapid microwave imaging approach for the diagnosis of traumatic brain injury
Bin Li,
Heng Liu
*
, Zekun Zhang, Xiang Gao
*
此作品的通讯作者
信息与电子学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
6
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'A rapid microwave imaging approach for the diagnosis of traumatic brain injury' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Scattering Parameters
100%
Singular Value Decomposition
100%
Foreign Body
100%
Bessel Function
100%
Inverse Scattering Problem
100%
Mathematics
Integer
100%
Scattering Problem
100%
Singular Value Decomposition
100%
Bessel Function
100%
Linear Problem
100%
Computer Science
Born Approximation
100%
Pharmacology, Toxicology and Pharmaceutical Science
Brain Hematoma
50%