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A hybrid evaluation method for the full-wave analysis of microstrip structures
H. T. Hui
*
, Edward K.N. Yung,
X. Q. Sheng
, C. H. Chan
*
此作品的通讯作者
集成电路与电子学院
Nanyang Technological University
City University of Hong Kong
科研成果
:
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综述
指纹
指纹
探究 'A hybrid evaluation method for the full-wave analysis of microstrip structures' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
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加权
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Physics
Far Field
100%
Green's Functions
100%
Engineering
Spatial Domain Method
100%
Earth and Planetary Sciences
Far Field
100%
Computer Science
Spatial Domain Method
50%
Domain Technique
50%